А. Б. Шеин, А. Л. Габов "Физические методы исследования. Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия"

Физические методы исследования. Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия [Электронный ресурс] : учебное пособие / А. Б. Шеин, А. Л. Габов ; Пермский государственный национальный исследовательский университет. – Электронные данные. – Пермь, 2023 – 6,23 Мб ; 168 с. – Режим доступа: http://www.psu.ru/files/docs/science/books/uchebnie-posobiya/SHein-Gabov-Fizicheskie-metody-issledovaniya-
Metallografiya-mikroskopiya-elektronnaya-spektroskopiya.pdf. – Заглавие с экрана.

ISBN 978-5-7944-4034-8

Цель издания – познакомить студентов химического факультета, изучающих дисциплины «Физические методы исследования» и «Методы локального анализа и анализа поверхности», с теоретическими основами, экспериментальными возможностями и аппаратурным оформлением микроскопических и спектроскопических методов исследования и анализа поверхности твердых тел.

Особое внимание в учебном пособии уделяется методам рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и Оже-электронной спектроскопии, широко применяемым в химических исследованиях для качественного и количественного анализа состава приповерхностных слоев материалов.

Скачать (pdf)